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陶瓷無損檢測技術(shù)

發(fā)布:2007-6-19 11:30:20  來源: 中國瓷都科技在線  [字體: ]

  眾所周知,陶瓷材料具有耐高溫、耐腐蝕、耐磨損、密度小等優(yōu)良性能,在燃?xì)廨啓C(jī)、汽車、內(nèi)燃機(jī)、熱交換器等各種工作機(jī)械或精密工具中制成各種零部件以取代傳統(tǒng)材料,應(yīng)用前景十分廣闊。然而,陶瓷是典型的脆性材料,由于陶瓷材料制造工藝復(fù)雜工序多,即使在同樣的工藝條件下,各零件的強(qiáng)度差異也很大,成批生產(chǎn)時質(zhì)量不易準(zhǔn)確控制。如果能夠用無損評價(NDE)和斷裂力學(xué)相結(jié)合的方法,研究微觀組織和理想的力學(xué)性能的關(guān)系,充分發(fā)揮材料的潛力,用無損檢測技術(shù)(NDT),將在陶瓷制造初期時就剔除廢品,可避免無價值的加工所造成的損失;和制造工藝結(jié)合,優(yōu)化工藝,這樣,不但可以挽回經(jīng)濟(jì)損失,避免構(gòu)件失效,提高產(chǎn)品壽命,而且還縮短了材料開發(fā)制造周期,在陶瓷材料制造領(lǐng)域中,具有很大的意義。
  用于陶瓷無損檢測的方法除表面浸透檢測外,主要有:X射線層析成像、紅外熱成像、超聲A掃描及C掃描、聲發(fā)射、微焦點X射線、超聲顯微鏡等。近年來,這些方法已在自動化技術(shù)、探測器技術(shù)、信息處理和資料存儲等方面取得很大的進(jìn)展,特別是用于航天航空領(lǐng)域的陶瓷基復(fù)合材料構(gòu)件的制造中發(fā)揮著極為重要的作用。
 。、X射線層析成像法(X—CT)
 。ǎ—CT)的特點是:(1)高的空間分辨率和密度分辨率(通常<0.5%);(2)高檢測范圍(1~106);(3)成像的尺寸精度高,可實現(xiàn)直觀的三維圖像;(4)在有足夠的穿透能量下,可不受試件幾何結(jié)構(gòu)的限制等。局限性表現(xiàn)為:檢測效率低、檢測成本高、雙側(cè)透射成像,不適于平板薄件的檢測以及大型構(gòu)件的現(xiàn)場檢測;谒奶攸c,其用途主要?dú)w結(jié)為以下幾個方面:(1)非微觀缺陷的檢測;(2)密度分布的測量;(3)內(nèi)部結(jié)構(gòu)尺寸的精確測量;(4)裝配結(jié)構(gòu)和多余物檢測;(5)三維成像與CAD/CAM等制造技術(shù)結(jié)合而形成的所謂反饋工程。
  2、 紅外熱成像法
  在紅外無損檢測中,當(dāng)物體受到熱激發(fā)時,熱量將在其內(nèi)部進(jìn)行傳遞。當(dāng)物體內(nèi)部存在缺陷時,就會改變物體表面的熱傳導(dǎo)特性,熱傳導(dǎo)特性的改變將會導(dǎo)致熱分布發(fā)生變化,從而使物體表面的溫度發(fā)生差異。用紅外熱像儀檢測出物體表面的這種溫度差異,即可判斷被測試樣中是否存在缺陷以及缺陷存在的情況。
   紅外無損檢測是在非接觸、可遠(yuǎn)距離操作條件下進(jìn)行,它具有以下優(yōu)點:(1)靈敏度高,速度快;(2)檢測儀器結(jié)構(gòu)較簡單;(3)使用安全,信號處理速度高,可建立自動檢測系統(tǒng);(4)受工件表面光潔度影響;(5)檢測用途廣泛。它的缺點是:受產(chǎn)品表面及背景輻射的影響;靈敏度受缺陷大小和深度的影響;不能非常精確地測定缺陷的大小、形狀和位置;溫度記錄曲線的解釋困難,并且需要有專業(yè)操作人員。
 。、超聲檢測
  在陶瓷材料的無損檢測中,超聲檢測是應(yīng)用最廣泛的技術(shù),它不僅能檢測分層、氣孔、裂縫和夾雜等缺陷,而且在判別密度差異、彈性模量、厚度等特性和幾何形狀的變化方面也具有一定的能力。
  激光超聲陶瓷無損評價,克服了傳統(tǒng)耦合法難以適應(yīng)在線檢測及高溫、高濕條件下的陶瓷檢測的缺點,具有非接觸性、寬帶、定量、多波型(能同時激發(fā)縱波、橫波、表面波)、時空分辨率高等優(yōu)點,使其既適于陶瓷制作過程監(jiān)測,又能對成品進(jìn)行質(zhì)量評價。SLAM應(yīng)用于重要部位陶瓷材料檢測,如航空、航天構(gòu)件。它對面型、體積缺陷有很好的檢測能力,而且對內(nèi)部裂紋及表面空穴的檢測也有較好的效果,但是構(gòu)件的表面狀況對檢測可靠性有很大的影響。
   陶瓷的超聲C掃描是檢測陶瓷內(nèi)部缺陷位置、大小和分布狀態(tài)的有效方法,能檢測氣孔、裂紋、夾雜和孔隙率等,特別是可以清晰地顯示出所有的夾雜物,包括對X射線不敏感的非鐵夾雜物,可根據(jù)成像圖形測定缺陷的大小。超聲波掃描檢測精度高,但需要耦合劑和與部件兩面接觸,其優(yōu)點是能檢測多層層疊整個深度內(nèi)的裂紋和不連續(xù)性。常規(guī)C掃描受到陶瓷材料氣孔率的限制,在陶瓷檢測中,一般使用高頻來檢測小缺陷。掃描聲顯微鏡(SAM)比常規(guī)C掃描應(yīng)用更為廣泛,它的工作頻率可達(dá)20~200MHZ,此時對表面及亞表面的檢測可分辨率可達(dá)1~2μm。SAM的特點如下:(1)橫向分辨率高,縱向分辨率低,適用于測量與聲速垂直的面狀缺陷;(2)可測曲面樣品;(3)靈敏度與檢測深度有關(guān);(4)對表面光潔程度需求較高;(5)水中聲速和陶瓷中聲速差異使焦點變形大。信號處理技術(shù)應(yīng)用于C掃描成像會更明顯改善成像效果,如信號平均、濾波技術(shù)、合成孔徑聚焦、時間渡越衍射、頻譜分析等都能改善散射或衰減造成的影響。
 。础⒙暟l(fā)射(AE)檢測
 。粒攀菍μ沾刹牧线M(jìn)行無損檢測的一種有效的方法。它與超聲密切相關(guān),被視為是一種很有潛力的檢測方法,特別是監(jiān)測材料的固化和粘結(jié)情況,損傷程度定位以及預(yù)測最終強(qiáng)度方面很有發(fā)展前景。AE檢測具有以下特征:可檢測微裂紋;能檢測裂紋位置,可適用于復(fù)雜形狀的構(gòu)件;由分析可得到微斷裂面積、開裂時間的定量資料。
 。、微焦點X射線
   微焦點X射線檢測有3種方法:(1)接觸顯微射線照相,即按常規(guī)幾何射線照相,然后以光學(xué)或高倍放大射線照片;(2)使用很小焦點的X射線設(shè)備,在射線照相過程中進(jìn)行幾何放大;(3)非對稱衍射,實際上是X射線透鏡,放大低能X射線圖像。
  陶瓷顯微X射線照相檢驗可以揭示表面和內(nèi)部的小尺寸缺陷,可以檢測的缺陷尺寸決定于在樣品厚度上出現(xiàn)的對比度和由檢測器的不清晰度及系統(tǒng)幾何結(jié)構(gòu)決定的系統(tǒng)的空間分辨率特征?斩春偷兔芏葏^(qū),如其尺寸適于檢驗系統(tǒng)的分辨力和對比度也能夠檢測,例如100μm的空洞為5mm厚度樣品的2%;對于良好的顯微射線照相操作,這樣尺寸和對比度的空洞是能夠檢驗的。在適宜的條件下裂紋也是能夠檢測的,但裂紋的方位應(yīng)與X射線的方向一致。陶瓷中與密度或厚度相關(guān)聯(lián)的其它變化,如果與射線照相系統(tǒng)的性能相適應(yīng),也能檢測出來。
 。丁⒔Y(jié)語
  無損檢測技術(shù)(NDT)在檢測和評價陶瓷材料結(jié)構(gòu)損傷和控制生產(chǎn)質(zhì)量方面,仍將繼續(xù)發(fā)展。在陶瓷材料領(lǐng)域,NDT將逐漸成為全面質(zhì)量管理中的重要一環(huán),這對保證陶瓷材料在工作中安全運(yùn)行將起到十分重要的作用。隨著儀器自動化程度以及數(shù)據(jù)處理技術(shù)水平的不斷提高,NDT不僅對缺陷探測愈加重要,而且將成為工藝控制的更有效的方法。

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